1、中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 1 7 02 0 0 7负温度系数低温电阻温度计校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rC r y o g e n i cR e s i s t a n c eT h e r m o m e t e r sw i t hN e g a t i v eS e n s i t i v i t y 2 0 0 7-0 2-2 8发布2 0 0 7-0 8-2 8实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布负温度系数低温电阻温度计校 准 规 范C a l i b r a t
2、i o nS p e c i f i c a t i o n f o rC r y o g e n i cR e s i s t a n c eT h e r m o m e t e r sw i t hN e g a t i v eS e n s i t i v i tyJ J F1 1 7 02 0 0 7代替J J G8 5 71 9 9 4 本规范经国家质量监督检验检疫总局2 0 0 7年2月2 8日批准,并于2 0 0 7年8月2 8日起实施。归 口 单 位:全国温度计量技术委员会 起 草 单 位:中国科学院理化技术研究所 本规范由全国温度计量技术委员会负责解释J J F1 1 7
3、02 0 0 7 本规范主要起草人:林 鹏(中国科学院理化技术研究所)参加起草人:张庆庚(中国科学院理化技术研究所)喻力弘(中国科学院理化技术研究所)J J F1 1 7 02 0 0 7目 录1 范围(1)2 引用文献(1)3 概述(1)4 计量特性(1)4.1 温度计的基本信息(1)4.2 温度计的稳定性(2)4.3 温度计的测量电流和自热效应(2)5 校准条件(2)5.1 环境条件(2)5.2 标准和其他设备(2)6 校准项目和校准方法(3)6.1 老化实验(3)6.2 外观检查(3)6.3 示值校准(3)6.4 校准数据处理(5)7 校准结果表达(6)8 复校时间间隔(7)附录A 测量
4、不确定度评定(8)附录B 校准证书拟合数据页格式(建议)(1 3)J J F1 1 7 02 0 0 7负温度系数低温电阻温度计校准规范1 范围本规范适用于测量范围为1.2 K2 7 3.1 6 K的低温锗电阻温度计、低温氧化物热敏电阻温度计和低温渗碳玻璃电阻温度计。本规范文本中未指明何种类型的温度计时,以下都简称温度计。2 引用文献J J G3 5 01 9 9 4 标准套管铂电阻温度计检定规程J J G8 5 81 9 9 4 标准铑铁电阻温度计检定规程使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3 概述负温度系数的低温电阻温度计,包括低温锗电阻温度计、低温氧化物热敏电阻温度计和低
5、温渗碳玻璃电阻温度计等,是根据半导体的电阻随温度变化而变化的特性来测量温度的。这些温度计的特点是电阻随温度呈负指数变化,灵敏度高,使用温区宽窄不一,互换性不好,需单支多点校准。低温锗电阻温度计、低温渗碳玻璃电阻温度计和低温氧化物热敏电阻温度计,一般都做成四引线,分别是正负电流、正负电压引线,封装在金属壳套管中,为增强传热效果,套管内多充入少量氦气以减小温度计自热效应的影响。低温氧化物热敏电阻温度计,也有二引线式、玻璃封装的,校准时用四引线法测量电阻。这些温度计校准数据通常采用切比雪夫多项式做最小二乘法拟合,其电阻-温度关系主要有以下四种:T=a02+ni=1aic o s(ic o s-1x)
6、=a02+ni=1aic o sic o s-1(Al nR+B)(1)T=a02+ni=1aic o s(ic o s-1x)=a02+ni=1aic o sic o s-1Al n(l nR)+B(2)l nT=a02+ni=1aic o s(ic o s-1x)=a02+ni=1aic o sic o s-1(Al nR+B)(3)1T=a02+ni=1aic o s(ic o s-1x)=a02+ni=1aic o sic o s-1(Al nR+B)(4)式中,A、B是归一化常数,保证对全部校准点-1x+1,ai是拟合系数。最常用的拟合形式是式(1)。根据不同情况,有时校准数据的拟合需分段进行。4 计量特性4.1 温度计的基本信息1J J F1 1 7 02 0 0 7被校的温度计包装盒必须标有温度计生产厂商名称、温度计名称、型号和温度计编号,温度计电流、电压引线需区分的型号,应有引线的识别。温度计外壳应有编号,或在引线上加识别编号。被校温度计应说明使用温区和准确度要求。温度计封装的环氧树脂或玻璃,不应有开裂现象。4.2 温度计的稳定性温度计通常在液氦沸点、液氮沸点或靠近使用
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