1、I C S 1 9.0 4 0K 0 4绷黔中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准G B/T 2 4 2 3.2 7-2 0 0 5 八E C 6 0 0 6 8-2-3 9:1 9 7 6 代替 GB/T 2 4 2 3.2 7-1 9 8 1 电工电子产品环境试验第2 部分:试验方法试验 Z/A MD低温/低气压/湿热连续综合试验 E n v i r o n m e n t a l t e s t i n g f o r e l e c t r i c a n d e l e c t r o n i c p r o d u c t s-P a r t 2:T e s t s m e t
2、 h o d s-T e s t Z/A MD:C o mb i n e d s e q u e n t i a l c o l d,l o w a i r p r e s s u r e a n d d a mp h e a t t e s t(I E C 6 0 0 6 8-2-3 9:1 9 7 6,B a s i c e n v i r o n me n t a l t e s t i n g p r o c e d u r e s-P a r t 2:T e s t s-T e s t Z/A MD:C o mb i n e d s e q u e n t i a l c o l d
3、，l o w a i r p r e s s u r e a n d d a mp h e a t t e s t,I D T)2 0 0 5-0 8-2 6 发布2 0 0 6-0 4-0 1实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会发 布G B/T 2 4 2 3.2 7-2 0 0 5/I E C 6 0 0 6 8-2-3 9:1 9 7 6目次前 言的目试验的 一般说明，。，。，1试验设备的 说明 ，。，、。，1试验程序 ，。，1预处理.，.I初始检测.，甲，一 1条件试验 ，。，。2恢复 ，。，二2最后检测 。，。，。，2相关规范 应作
4、出的 信息 ，2GB/T 2 4 2 3.2 7-2 0 0 6 八EC 6 0 0 6 8-2-3 9:1 9 7 6前言 本部分是 G B/T 2 4 2 3 电工电子产品环境试验 的一部分。本部分等同采用 I E C 6 0 0 6 8-2-3 9;1 9 7 6 基本环境试验规程第 2部分:试验方法试验 Z/A MD:寒冷、低气压和湿热连续综合试验(英文版)。本部分技术 内容与 I E C 6 0 0 6 8-2-3 9:1 9 7 6 基本环境试验规程第 2部分，试验方法试验Z/AMD:寒冷、低气压和湿热连续综合试验)(英文版)相同，编写格式与表达方式符合 G B/T 1.12 0
5、0 0和G B/T 2 0 0 0 0.2-2 0 0 1 的有关规定。为便于使用，本部分对于I E C 6 0 0 6 8-2-3 9;1 9 7 6 作了下列编辑性修改:a)为了G B/T 2 4 2 3 电工电子产品环境试验 各部分的名称协调一致，本部分未完全采用 I E C 6 0 0 6 8-2-3 9;1 9 7 6 的中文译名，而改为 电 工电子产品环境试验第2 部分:试验方法试验 Z/A MD:低温/低气压/湿热连续综合试验;b)删除了I E C 6 0 0 6 8-2-3 9;1 9 7 6 的前言 本部分发布实施后代替 G B/T 2 4 2 3.2 7-1 9 8 1 电
6、工电子产品基本环境试验规程试验 Z/A MD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法。本部分与G B/T 2 4 2 3.2 7-1 9 8 1 相比主要变化如下:a)为了GB/T 2 4 2 3 电工电子产品环境试验 各部分的名称协调一致，本部分名称改为 电工电子 产品环境试验第 2 部分:试验方法试验 Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验;b)第 1 章“目的”和第 2章“试验的一般说明”的文字叙述与原来有所不同。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电工电子产品环境技术标准化技术委员会归口。本部分起草单位:信息产业部电子第五研究所。本部分主要起草人:邱福来、张铮 本部分所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T 2 4 2 3.2 7-1 9 8 1。GB/T 2 4 2 3.2 7-2 0 0 5/I EC 6 0 0 6 8-2-3 9;1 9 7 6电工电子产品环境试验第 2 部分:试验方法试验 Z/A MD,低温/低气压/湿热连续综合试验目的 本部分提供了由 低温、低气压和Ai热组成的标 准环境试验程 序。首 先低温 和低气压结合在一起，其次升温，然后与湿热条件结合
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