氧化铁皮 第7部分：游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法SNT3323.7-2023.pdf

氧化铁皮 第7部分：游离-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法讲解了如何通过X射线衍射技术对氧化铁皮中的游离-SiO2进行精准的含量测量方法。文档详述了使用该特定方法，包括实验所需设备、实验环境的条件控制，以及详细的实验步骤操作指南，确保每个实验室工作人员能够准确重现测量结果。文章还阐述了K值选择与校准的重要性，并提供了标准的K值表和参考物质列表。对于样品制备，它介绍了采样注意事项，样品的前处理方式，特别是如何将样品制成均匀薄片，使X射线可以顺利穿透，保证最终分析精度。此外，为了提高测量可靠性，文档列出了可能引起测量误差的因素，如晶体择优取向的影响和衍射强度波动的问题。同时说明了一些常见问题及其解决办法，并强调了实验数据记录和计算过程的标准要求，使得读者能够全面掌握并规范实施这项专业测定技术。氧化铁皮 第7部分：游离-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法适用于钢铁生产相关企业和检测机构中涉及到氧化铁皮研究和技术评估的专业人员。特别适合那些需要定期监测或分析钢材表面处理产物，即氧化铁皮中的有害杂质成分-SiO2含量的工作人员。这包括冶金工程师、质检员及科研人员等，他们都依赖此标准来进行精确的质量控制和产品性能评价，在遵守国家标准的同时为改进生产工艺提供重要依据。