石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量GBT22319.6-2023.pdf

石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性讲解了关于石英晶体元件在不同激励电平下的参数测量方法，特别聚焦于激励电平依赖特性（DLD）的详细分析与规定。此标准针对影响测量准确性的多种因素提出了具体的解决方案，并且对用于评估这些特性的设备和操作流程给出了详尽的要求。对于测量过程中的条件设置、环境要求等做出了精确描述，在测量结果表达方面也设立了明确的标准。该文还深入剖析了不同类型的石英晶体元件可能受到激励电平影响的程度差异，并根据不同类型制定了差异化的测试方案来适应不同应用场景下的测量需求。为了保证测量结果的准确性与可靠性，它详细规定了校准方式、参考点的选择和数据处理方法等内容，以实现测量不确定度的有效控制。石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性适用于各类涉及石英晶体元件研发、生产和应用的机构或个人，尤其是电子制造业内的专业技术人员和质量检测部门，包括但不限于科研单位进行的研究工作以及制造商的产品设计优化过程中。本文件能够为从事通信、导航等领域的企业提供必要的技术支持，确保其使用的石英晶体元件在其特定工作条件下性能稳定，符合相应的规格和标准。