你正在下载：《

碳化硅单晶位错密度的测试方法GBT41765-2022.pdf

》 [预览]

格式：PDF ，页数：12 ，大小：4.41MB ,
资源ID：268859 下载积分：9.8 金币免费下载

快捷下载

登录下载

邮箱/手机：
温馨提示：	快捷下载时，用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号，方便查询和重复下载（系统自动生成）。如填写123，账号就是123，密码也是123。
特别说明：	请自助下载，系统不会自动发送文件的哦；如果您已付费，想二次下载，请登录后访问：我的下载记录
支付方式：
验证码：	换一换

加入VIP,免费下载

温馨提示：由于个人手机设置不同，如果发现不能下载，请复制以下地址【https://www.aqrzj.com/docdown/268859.html】到电脑端继续下载（重复下载不扣费）。

已注册用户请登录：

账号：
密码：
验证码：	换一换
当日自动登录忘记密码？

三方登录：

1: 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。
2: 试题试卷类文档，如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案，请知晓。
3: 文件的所有权益归上传用户所有。
4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
5. 本站仅提供交流平台，并不能对任何下载内容负责。
6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

本文（碳化硅单晶位错密度的测试方法GBT41765-2022.pdf）为本站会员（一米阳光）主动上传，安全人之家仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对上载内容本身不做任何修改或编辑。若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私，请立即通知安全人之家（发送邮件至316976779@qq.com或直接QQ联系客服），我们立即给予删除！

碳化硅单晶位错密度的测试方法GBT41765-2022.pdf

碳化硅单晶位错密度的测试方法GBT41765-2022讲解了关于碳化硅单晶中位错缺陷的系统测量技术及其评价方式，规定了碳化硅单晶中位错线的测试范围、规范性引用文件以及术语定义等内容。此标准旨在建立一种统一而可靠的方法用于检测和量化影响碳化硅材料质量和性能的关键因素之一位错密度。具体而言，该标准阐述了不同种类位错包括螺型位错、刃型位错等形态的识别依据，给出了详细的样品制备要求，从晶体的初始取样直到表面处理的每个步骤进行了描述，保证样本在测量过程中的稳定性和代表性。另外，针对位错观察的技术手段，文档指出了可以利用电子显微镜或者特殊光学器件进行高分辨率的成像记录，并明确了位错计数规则，即统计一定面积内各种类型位错的数量进而获得密度数值。对于误差估计及结果表述，也制定了严格的标准，通过设定可信度指标，指导使用者如何准确评估数据的精确性。碳化硅单晶位错密度的测试方法GBT41765-2022适用于从事半导体研发、制造的相关企业和科研机构，为他们提供了必要的质量控制手段以满足高端应用领域对碳化硅基器件日益增长的需求。特别是那些涉及功率电子器件如新能源车辆充电桩、高效光伏逆变器以及其他高压高频应用场景的企业，这份标准文档将成为其产品品质保障的重要参考依据，确保相关从业者能够遵循同一套严格科学的检测流程来确定所使用或生产的碳化硅材料的真实质量状况。