ImageVerifierCode 换一换
格式:PDF , 页数:27 ,大小:11.73MB ,
资源ID:304197     下载积分:9.8 金币    免费下载
快捷下载
登录下载
邮箱/手机:
温馨提示:
快捷下载时,用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号,方便查询和重复下载(系统自动生成)。 如填写123,账号就是123,密码也是123。
特别说明:
请自助下载,系统不会自动发送文件的哦; 如果您已付费,想二次下载,请登录后访问:我的下载记录
支付方式: 支付宝扫码支付 微信扫码支付   
验证码:   换一换

加入VIP,免费下载
 

温馨提示:由于个人手机设置不同,如果发现不能下载,请复制以下地址【https://www.aqrzj.com/docdown/304197.html】到电脑端继续下载(重复下载不扣费)。

已注册用户请登录:
账号:
密码:
验证码:   换一换
  忘记密码?
三方登录: 微信登录   QQ登录  

下载须知

1: 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。
2: 试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓。
3: 文件的所有权益归上传用户所有。
4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
5. 本站仅提供交流平台,并不能对任何下载内容负责。
6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

版权提示 | 免责声明

本文(硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法GBT1553-2023.pdf)为本站会员(一米阳光)主动上传,安全人之家仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知安全人之家(发送邮件至316976779@qq.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法GBT1553-2023.pdf

硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法GBT1553-2023讲解了非本征硅单体和锗单体在载流子复合过程中,针对非平衡少数载流子寿命测定的专门测试方法。文件核心聚焦于通过光电导衰减这一调试技术来量化并分析非本征硅单品及锗单品材料内部少子(少数载流子)寿命特性。具体操作原理在于,利用特定光源激发样品,在非平衡条件下使材料中产生额外载流子对。随后切断光照,记录下因复合过程所引发的光电导响应随时间变化的趋势,由此精确测量得到从激发态返回基态的平均时间周期,该周期即为少数载流子寿命。这一过程对于评估材料质量以及预测其在不同环境下可能发生的性能波动意义非凡。由于载流子行为直接影响到电子元器件的工作稳定性和效能表现,因此采用规范准确的方法进行寿命参数检测显得尤为关键。硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法GBT1553-2023适用于从事硅与锗半导体材料研发、制造及相关器件生产领域的科研工作者和技术人员。无论是在新产品开发阶段还是生产线质量管理控制流程之中,所有涉及到需深入了解或评价非本征硅单体及锗单体内非平衡少数载流子动力学性质的研究人员,皆可依据此文档提供的标准指南来进行可靠的测试操作。这对于提高我国在硅锗半导体基础原材料及其下游产业的技术水平和发展速度有着不可替代的作用。

copyright@ 2010-2025 安全人之家版权所有

经营许可证编号:冀ICP备2022015913号-6