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天线测量场地检测方法GBT44599-2024.pdf

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天线测量场地检测方法GBT44599-2024.pdf

天线测量场地检测方法讲解了针对不同类型天线测量场地的检测要求与具体的检测方法，旨在为相关工作的执行提供指导。该标准定义了如微波暗室、静区等关键概念，并详细列出了远场测量场地、近场测量场地和紧缩场测量场地的各项性能检测内容与方式。在远场测量场地方面，该标准描述了包括暗室屏蔽性能、静区反射电平性能、口径场性能在内的多项检测指标，提供了自由空间电压驻波比法等多种测量方法。而对近场测量场地，则涉及了探头幅相性能检测及交叉极化性能检测，强调多探头系统的均匀性测试。至于紧缩场测量场地，同样围绕暗室屏蔽性能以及静区内的特殊检测展开。这些内容涵盖了场地的基本功能评估，到更深层次的关键技术指标测量。此外，天线测量场地检测方法适用的工作频段为400MHz至6000MHz的范围。天线测量场地检测方法适用于通信领域的各类天线研发、制造与质量控制工作。主要涵盖无线电通信设备制造商、运营商及其相关的第三方测试机构，尤其是在需要进行精密天线性能测试的企业中尤为关键。本标准所设定的具体测试方法和要求，不仅适合上述频段，也能够供其他频率区间内的天线测量作为参考。这意味着无论是传统无线通信基站还是现代5G网络中的复杂天线系统评测均适用，极大地满足了行业发展需求。