1、高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法YST923.2-2024讲解了适用于高纯铋材料中多种痕量杂质元素定量分析的标准化检测技术路径，明确了辉光放电质谱法（GD-MS）在超痕量（可达10 g/g级）、多元素（涵盖Al、Si、Ca、Fe、Cu、Zn、Pb、Na、K、Mg、Cr、Ni、Co、Mn、Ti、V、As、Sb、Te、Se、Cl等20余种）同步测定中的样品制备要求、仪器校准策略、质量数选择原则、干扰校正方法（含同质异位素、多原子离子及基体效应修正）、定量计算模型及不确定度评定流程。该标准规定了固体导电样品直接进样分析模式，强调高纯铋基体的低挥发性与均匀性对放电稳
2、定性的关键影响，给出了标准物质匹配、内标元素（如In、Tl）选用建议、检出限确定方法（以3计）及重复性与再现性允差指标（RSD20%），并配套规范了测试报告应包含的元素列表、单位、不确定度、测量条件及溯源依据等内容，填补了我国高纯金属中极低含量杂质元素精准识别与可比性评价的技术空白。高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法YST923.2-2024适用于从事高纯金属材料研发、生产与质量控制的科研院所、第三方检测机构、有色金属冶炼企业及半导体靶材制造单位，尤其面向需满足电子级、核级或特种合金用铋材料杂质限值要求的技术人员；同时适用于承担国家新材料检验任务、参与国际标准比对、开展高纯金属纯度认证及痕量杂质溯源研究的分析化学实验室。该标准亦为高校材料分析课程实验设计、GD-MS仪器操作培训及新材料杂质数据库构建提供权威方法学支撑。
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