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高纯铋化学分析方法 第2部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法YST923.2-2024.docx

1、高纯铋化学分析方法 第2部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法讲解了采用辉光放电质谱法(GD-MS)精准测定高纯铋材料中多种痕量杂质元素含量的技术路径与操作规范。该标准明确了适用于高纯铋中锂、铍、硼、钠、镁、铝、硅、磷、硫、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、锗、砷、硒、溴、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、铱、铂、金、汞、铊、铅、铋、钍、铀等共计72种元素的定量分析方法,各元素测定范围依据其物理化学特性差异化设定,覆盖0.001 g/g至5.0 g/g区间,

2、并对氟、硫、钾、溴、硒、碘等6种元素扩展至0.050 g/g起始。标准系统规定了试验条件、干扰因素识别与消除措施、所用试剂与气体纯度要求(包括盐酸、高纯氮气及校正样品)、仪器关键参数(如分辨率不低于3000、铋同位素电流值控制)、样品制备与分析流程、结果计算与精密度要求等内容。相较于2013版,本标准强化了方法适用性与可操作性,新增试验条件与干扰分析章节,优化检测下限与仪器性能指标,删除冗余分辨率模式条款,体现当前辉光放电质谱技术在超痕量金属杂质分析中的先进水平与工程化应用能力。高纯铋化学分析方法 第2部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法适用于从事高纯铋研发、生产、质量控制与第三方检测的机构及相关技术人员,涵盖有色金属冶炼企业、稀有金属材料制造商、半导体级金属靶材供应商、核工业用铋基材料研制单位、电子特种金属材料实验室以及高校和科研院所中开展高纯金属痕量杂质表征的研究人员。该标准尤其适用于对铋纯度要求严苛的应用场景,如核反应堆中子吸收材料、低温超导器件基体、红外光学晶体原料、医药级铋制剂原料及高端催化剂载体等领域的质量把关与工艺验证环节,为保障高纯铋材料在关键功能应用中的可靠性、一致性和安全性提供权威、统一、可复现的分析技术依据。

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