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高炉用<em>碳化硅</em>-碳质捣打料YBT4349-2013.pdf
机械密封用<em>碳化硅</em>密封环 技术条件JBT6374-2020.pdf
<em>碳化硅</em>单晶位错密度的测试方法GBT41765-2022.pdf
<em>碳化硅</em>单晶用高纯石墨粉JCT2796-2023.pdf
<em>碳化硅</em>外延片表面缺陷的测试 激光散射法GBT42902-2023.pdf
<em>碳化硅</em>外延层厚度的测试 红外反射法GBT42905-2023.pdf
GBT 41736-2022 高体积分数<em>碳化硅</em>颗粒铝基复合材料.pdf
半绝缘<em>碳化硅</em>单晶的电阻率非接触测试方法GBT42271-2022.pdf
<em>碳化硅</em>单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法YST1600-2023.pdf
电力系统高压功率器件用<em>碳化硅</em>外延片使用条件DLT2310-2021.pdf
<em>碳化硅</em>陶瓷制品 工业计算机层析成像（CT）检测JCT2656-2022.pdf
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<em>碳化硅</em>单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法GBT41153-2021.pdf
电热和电磁处理装置基本技术条件 第417部分：<em>碳化硅</em>单晶生长装置GBT10067.417-2023.pdf
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