多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法GBT24582-2023.pdf

本文件描述了用酸从多品硅表面浸取金属杂质，并用电感制合等离子质谱仪定量检测多品硅表面金属杂质含量的方法。本文件适用于太阳能级多品硅和电子级多品硅表面碱金属、碱土金属和第一系列过渡元素如钠钾、钙、铁、镍、铜、锌、铝等杂质元素含量的测定，测定范围为0,01ng/g。