集成电路测试用微波探针应用规范DB51T3207-2024.pdf

集成电路测试用微波探针应用规范讲解了四川省地方标准对集成电路测试用微波探针的分类、应用要求、故障判定、推荐指数以及维护需求等详细规定。该文件明确了微波探针在微波集成电路测试中的选用规则，确保探针的选择和使用符合技术要求。规范中具体描述了微波探针的分类，包括同轴探针和波导探针两大系列，并进一步细分为小功率同轴探针、高功率同轴探针、低频波导探针和高频波导探针。对于每种探针类型，文件规定了其适用频率范围、耐受功率、针尖宽度及扎痕面积等参数。此外，文件还提出了探针的应用要求，涵盖环境条件、仪器设备选择、针尖宽度与焊盘尺寸的匹配关系及针间距的选用标准。为了保证探针的可靠性和使用寿命，文件还提供了故障判定方法以及维护需求的具体指导。集成电路测试用微波探针应用规范适用于从事微波集成电路设计、生产、检测的相关企业及科研机构。特别是那些需要进行高频电路性能测试的企业或实验室，如通信设备制造商、半导体器件研发单位等。本标准为这些机构提供了一套完整的技术指南，帮助他们正确选择和使用微波探针，提高测试精度和效率，确保产品质量符合行业标准和技术规范。同时，该标准也适用于监管部门，用于监督和管理相关产品的生产和使用过程。