ZSM-23分子筛晶胞参数的测定 X-射线衍射法NBSHT6015-2020.pdf

ZSM-23分子筛晶胞参数的测定 X-射线衍射法NBSHT6015-2020讲解了利用X-射线衍射技术测定ZSM-23分子筛晶胞参数的标准方法。该文档描述了X-射线衍射分析的基本原理及其在分子筛材料结构表征中的应用，具体涵盖了样品制备、仪器校准、数据采集和结果处理的全过程。文档中还详细说明了晶胞参数计算所需的数据处理步骤，包括衍射峰的识别、布拉格角的测量以及晶格常数的确定方法。通过规范化操作流程和技术要求，该标准旨在提升测定结果的准确性和重复性，确保各实验室之间的数据一致性。 ZSM-23分子筛晶胞参数的测定 X-射线衍射法NBSHT6015-2020适用于从事分子筛材料研究、开发和质量控制的相关科研机构、高校实验室以及化工生产企业。该标准尤其适用于从事ZSM-23分子筛合成、结构表征及催化性能研究的技术人员和实验分析人员。同时，适用于需要进行材料晶体结构分析的分析测试中心及质量监督部门，有助于其按照统一规范开展测试与评价工作。