半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命GBT4937.23-2023.pdf

本文件描述了随时间的推移,偏条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于缔选试验中别除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。