1、中华人民共和国国家计量技术规范J J F2 1 0 22 0 2 4X射线安全检查计算机断层成像装置(C T)校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rX-r a yC o m p u t e dT o m o g r a p h yS e c u r i t yI n s p e c t i o nD e v i c e s 2 0 2 4-0 2-0 7发布2 0 2 4-0 8-0 7实施国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 发 布X射线安全检查计算机断层成像装置(C T)校准规范C a l i b r a t i o
2、 nS p e c i f i c a t i o nf o rX-r a yC o m p u t e dT o m o g r a p h yS e c u r i t yI n s p e c t i o nD e v i c e sJ J F2 1 0 22 0 2 4 归 口 单 位:全国电离辐射计量技术委员会 主要起草单位:江苏省计量科学研究院中国计量科学研究院北京市计量科学研究院 参加起草单位:同方威视技术股份有限公司中国测试技术研究院 本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释J J F2 1 0 22 0 2 4本规范主要起草人:王 鹏(江苏省计量科学研究院)张 健(中国计
3、量科学研究院)罗 琛(北京市计量科学研究院)参加起草人:张 丽(同方威视技术股份有限公司)夏勋荣(江苏省计量科学研究院)杨 勇(中国测试技术研究院)蒋 伟(江苏省计量科学研究院)J J F2 1 0 22 0 2 4目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)3.1 术语(1)3.2 计量单位(2)4 概述(2)5 计量特性(2)5.1 空间分辨力(2)5.2 密度分辨力(2)5.3 等效原子序数测量值差异性(2)5.4 测量值相对偏差(2)5.5 泄漏辐射(2)6 校准条件(2)6.1 环境条件(2)6.2 校准用标准器及配套设备(3)7 校准项目与校准方法(3)7
4、.1 空间分辨力(3)7.2 密度分辨力(3)7.3 等效原子序数测量值差异性(3)7.4 测量值相对偏差(4)7.5 泄漏辐射(5)8 校准结果表达与处理(5)8.1 校准记录(5)8.2 校准结果的处理(5)9 复校时间间隔(5)附录A 测试模体结构图(6)附录B 校准证书内页推荐格式(1 0)附录C 泄漏辐射测量结果不确定度评定示例(1 1)J J F2 1 0 22 0 2 4引 言 J J F1 0 7 12 0 1 0 国家计量校准规范编写规则、J J F1 0 0 12 0 1 1 通用计量术语及定义、J J F1 0 5 9.12 0 1 2 测量不确定度评定与表示共同构成支撑
5、本规范编制工作的基础性系列文件。本规范为首次发布。J J F2 1 0 22 0 2 4X射线安全检查计算机断层成像装置(C T)校准规范1 范围本规范适用于单能、双能X射线安全检查计算机断层成像装置(C T)的校准。2 引用文件本规范引用了下列文件:J J F1 0 0 1 通用计量术语及定义J J F1 0 3 5 电离辐射计量术语及定义J J F1 2 7 5 X射线安全检查仪校准规范G B T3 7 1 2 82 0 1 8 X射线计算机断层成像安全检查系统技术要求凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。3
6、术语和计量单位J J F1 0 0 1、J J F1 0 3 5、G B T3 7 1 2 82 0 1 8界定的及以下术语和定义适用于本规范。3.1 术语3.1.1 X射线计算机断层成像 X-r a yc o m p u t e dt o m o g r a p h y是一种利用一系列不同角度的X射线透视图像通过计算机运算处理得到物体内部截面图像的成像方法。3.1.2 线对 l i n ep a i r由一根线条和与其宽度相等的相邻间距所组成。3.1.3 空间分辨力 s p a t i a l r e s o l u t i o n系统鉴别和区分物体微小细节特征的能力。注:用系统所能识别的单位距离内的最大线对(L p/c m)数表示。3.1.4 密度分辨力 d e n s i t yr e s o l u t i o n系统能够区分密度相近物质的能力。注:用两种物质密度差的绝对值相对其中低密度物质密度值的百分比表示。3.1.5 泄漏辐射 l e a k a g er a d i a t i o n穿过屏蔽体的电离辐射束。3.1.6 感兴趣区域 r e g i o no f i n t
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