旋光仪及旋光糖量计用低透过率模拟器校准规范JJF 2174-2024讲解了旋光仪及旋光糖量计检定用低透过率模拟器的校准方法和技术要求。该规范详细描述了低透过率模拟器的计量特性、校准条件、校准项目和校准方法，并提供了透射比相对偏差测量结果的不确定度评定示例。规范引用了J J G 536-2015 旋光仪及旋光糖量计和G B/T 13962-2009 光学仪器术语等文件，确保了校准过程的科学性和准确性。规范还列出了光谱中性衰减低透过率模拟器和机械斩波低透过率模拟器的具体技术参数，以及环境温度和相对湿度等校准条件。此外，规范还提供了校准记录格式和校准证书格式，以便于实际操作中的记录和存档。旋光仪及旋光糖量计用低透过率模拟器校准规范JJF 2174-2024适用于旋光仪及旋光糖量计检定用低透过率模拟器的校准工作。该规范特别适用于计量检定机构、科研机构、生产制造企业等相关单位，帮助这些单位确保低透过率模拟器的准确性和可靠性，从而提高旋光仪及旋光糖量计的检测精度。规范中的详细技术和方法指导，对于提升相关领域的测量水平具有重要意义。
安全达人 