粗氢氧化钴中钴、铜和锰含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）SNT5625-2024.pdf

1、粗氢氧化钴中钴、铜和锰含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）描述了采用波长色散X射线荧光光谱法对粗氢氧化钴中的钴、铜和锰元素进行定量分析的方法。该标准规定了适用于测定上述三种元素的具体范围，其中钴的质量分数测定范围为2.00%至50.00%，铜和锰均为0.10%至15.00%。文件详细介绍了实验过程的关键步骤：首先将粉末样品与特定比例的熔剂混合后，在高温条件下熔铸成适合X射线荧光光谱仪测定的玻璃片；随后利用波长色散X射线荧光光谱仪测量这些玻璃片中待测元素的特征X射线荧光强度，并通过预先建立的校准曲线计算出各元素的含量。文中还列举了必要的试剂和材料，包括四硼酸锂、偏硼酸锂等作为熔剂

2、成分，以及高纯度的标准物质如四氧化三钴、氧化铜和二氧化锰用于制备标准样品。此外，文件明确了所需仪器设备的要求，例如符合GB/T 16597规定的波长色散X射线荧光光谱仪、非浸润铂合金制成的熔样皿和铸型模、可加热到1200的熔样炉等。规范性引用文件部分列出了本标准所依赖的基础性技术文档，确保方法的科学性和可靠性。粗氢氧化钴中钴、铜和锰含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）适用于从事粗氢氧化钴生产加工的企业实验室、科研机构及第三方检测机构。这些单位需要准确测定粗氢氧化钴中钴、铜和锰的含量，以保证产品质量符合相关标准或合同要求。此方法特别适合于进出口商品检验检疫领域，能够为海关等相关监管部门提供准确可靠的检测手段，保障国际贸易中金属矿物产品的质量监督和技术支持。同时，它也适用于新材料研发过程中对于原材料成分精确控制的需求。