分子筛相对结晶度的测定 粉末 X 射线衍射法NBSHT0971-2018 SAPO-11.pdf

分子筛相对结晶度的测定 粉末 X 射线衍射法 NBSHT0971-2018 SAPO-11讲解了采用粉末X射线衍射（XRD）方法测定分子筛特别是SAPO-11材料相对结晶度的原理、仪器要求、样品准备、测试步骤及相关参数计算方式。文档明确了相对结晶度的定义，是将待测样品的衍射图谱与标准参照物质进行比对，从而确定其结晶程度的一种半定量分析方法。标准规定了X射线衍射仪的基本技术参数，包括X射线源、探测器、扫描角度范围、步长及扫描速度。文档描述了样品制备的注意事项，要求样品压片平整、分布均匀、无择优取向。测试过程中需同时测定标准物质与待测样品，通过两者的衍射强度或峰面积差异，计算相对结晶度数值。该标准为分子筛类材料的质量评估提供了规范化方法。分子筛相对结晶度的测定 粉末 X 射线衍射法 NBSHT0971-2018 SAPO-11适用于从事催化剂制备与检测、材料科学研发及化工工艺优化的行业领域。具体包括石油炼制、煤化工、精细化学品合成、分子筛研发与生产等相关单位及其质量检测部门。适用人员包括分析化学技术人员、材料表征人员、工艺控制工程师、科研单位及高校研究生等，对于保障分子筛材料性能的稳定性与可比性，具有实际指导意义。