ZSM-22分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法NBSHT6033-2021.pdf

ZSM-22分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法讲解了一种使用X射线衍射法测定ZSM-22分子筛晶胞参数的具体操作规程。该标准适用于正交晶系的ZSM-22分子筛晶胞参数a、b、c的测定，并采用“双峰法”通过选取(200)、(400)衍射峰测定a参数，(020)、(040)衍射峰测定b参数，进而计算出晶胞参数。该检测方法在CuK射线源条件下进行，利用专业软件对衍射峰的角度值进行分析。测定XRD谱图的范围设定为2 6.029.0，并通过正交晶系晶胞参数与面间距的对应公式，结合布拉格方程计算得到精确参数值。标准中也提到分子筛的应用范围广泛，特别是在烷烃异构化反应中表现出良好的催化活性、选择性和稳定性。同时强调测定晶胞参数的重要性：其直接反映了ZSM-22分子筛的结构特性、硅铝比等核心指标，是评价产品质量的重要依据。ZSM-22分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法适用于从事石油炼制、化工催化、材料分析等领域的技术人员和研究单位，尤其是在涉及分子筛合成与应用的科研机构、催化材料生产与检测实验室以及相关质量控制系统部门中具有广泛用途。此外，该标准对ZSM-22分子筛产品性能分析、生产工艺优化及催化剂研发有显著指导作用。适用于关注正交晶系分子筛结构表征、晶体特性分析及晶胞参数精确测定的从业人员参考使用。